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微電腦高低溫老化試驗箱(135*3846*9076熊s)內箱尺寸

型號: hl-306   內形尺寸:h×w×d 85×60×60cm    

型號: hl -408    內形尺寸:h×w×d 85×60×80cm    

型號: hl -1000   內形尺寸:h×w×d 100×100×100cm

微電腦高低溫老化試驗箱制冷配置

1、制冷壓縮機：原裝法國“泰康”全封閉活塞式低溫壓縮機

2、蒸發(fā)器：國內知名品牌

3、冷凝器：國內知名品牌

4、節(jié)流裝置：“丹麥  ”丹佛  思熱力膨脹閥、毛細管

5、冷媒：環(huán)保型r404、f23、r14

6、電磁閥：進口“意大利”電磁閥

微電腦高低溫老化試驗箱設備用途：

    微電腦高低溫老化試驗箱主要用于對產品按照國家標準要求或用戶自定要求，在高溫、低溫、濕熱、條件下對產品的物理以及其它相關特性進行環(huán)境模擬測試，測試后，通過檢測，來判斷產品的性能，是否仍然能夠符合預定要求，以便于產品設計、改進、鑒定及出廠檢驗用。

微電腦高低溫老化試驗箱技術參數

1、溫度范圍：（0℃、-20℃、-40℃、-70℃）～+150℃

2、濕度范圍：30～98％rh

3、溫度均勻度≤±2.0℃

4、溫度波動度≤±0.5℃

5、濕度波動:+2-3％rh

6、降溫速率：0.7℃～1℃（空載狀態(tài)下）

7、升溫速率：1～3℃（空載狀態(tài)下）

微電腦高低溫老化試驗箱設備執(zhí)行標準：qq:2850687970

gb10586-2006 濕熱試驗箱技術條件

gb10589-2006 低溫試驗箱技術條件

gb10592-2006高低溫老化試驗箱技術條件

gb11158-2006 高溫試驗箱技術條件

gb/t2423.1-2001 試驗a：低溫試驗方法

gb/t2423.2-2001 試驗b：高溫試驗方法

gb/t2423.3-1993 試驗ca: 恒定濕熱試驗

gb/t5170.2-1996 電工電子產品環(huán)境試驗設備基本參數檢定方法溫度試驗設備

gb/t5170.5-1996 電工電子產品環(huán)境試驗設備基本參數檢定方法 濕熱試驗設備

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